成果名称:

CCD/CMOS探测器光谱/辐射响应性能测试装置

应用领域:

CCD/CMOS探测器光谱/辐射响应性能测试

成熟度:

产品实际应用


成 果 简 介

    

CCD/CMOS探测器光谱/辐射响应性能测试装置为双积分球等色温连续调光系统,单色光源实现了200nm-2500nm宽波段高分辨率单色波长输出;测试软件以自上而下整体设计+自下而上分模块实现设计理念为指导,采用VB.NET+Matlab语言混合编写而成,经测试,辐射光源中心40mm×40mm区域辐照度非均匀性达到了0.87%。

特点:

200nm~2500nm宽波段相对光谱响应度测量

辐射光源中心40mm×40mm区域辐照度非均匀性小于1%



技 术 参 数

中心波长精度

优于±1nm

峰值波长精度

优于±1nm

光谱带宽测量精度

优于±0.5nm

相对光谱响应度测量精度

优于±2%

非均匀性标定误差

优于±1%

像素不均匀性测量精度

优于±1%